我是新手阿！
初来乍到的请大家支持！

可能是韩国老爹回归用的标样与你要分析的金盐基体不同的缘故。

引用:
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请和陈先生联系，它是能谱专家。电话：13701115274。


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谢谢大虾！

请教jjc406

首先谢谢你的答复，另外请教两个问题。
“低真空這種現象發生的原因可能是二次電子散射造成detector收集到電子束打到樣品台上的二次電子造成的。”
是不是高真空下二次電子就不会散射激发樣品台？
“理論上電子束只能穿透<10nm的薄層﹐無法穿透樣品層而直接打到樣品台上造成其元素激發。”
在INCA 能谱分析仪客户现场培训教材中有“X射线产出于梨形立心体作用体表层1~2微米，作用体积随加速电压和样品密度不同变化”一句话。
另外有10KV、15KV、20KV加速电压下Si和Cu的作用体积示意图，分别显示如下：
Si 10KV 直径2.9微米，深度1.5微米
15KV 直径5.5微米，深度3.0微米
20KV 直径8.6微米，深度4.9微米
Cu 10KV 直径0.1微米，深度0.1微米
15KV 直径0.8微米，深度0.6微米
20KV 直径1.6微米，深度1.1微米

把样品放在碳制的样品座上应该好一些吧。

我说的模拟小程式就是这个！！！！