此外 XWW428老师能否用简单的图解法来解释一下临近谱线扣除背景的原理？由于小女子理解力太差，目前所看到的关于临近谱线法扣除背景的资料均为文字阐述，没有见到过图文并茂的阐述，不知是什么原因。

这里的临近谱线是一种不专业的通俗说法，如果∏是目标谱线，磁场裂解产生的偏移谱线∏±△α就可以认为是临近谱线，因为空心阴极灯是锐线光源，所以不象连线光源那样有自然的临近谱线，只能通过磁场的方式产生近似的，自吸也是类同，只不过产生方式不同

同光是指同一条谱线，不是指光源，因此，目前任何一种背景扣除方式都达不到同光，只是尽量接近而已

扣背景其实就是将总吸收中的非目标物吸收去除，因为非目标物的吸收有散射，非特征性吸收和结构性吸收，所以要想绝对扣干净是困难的，只是看哪种方式更接近而已
而采用临近谱线就是采用近似于目标谱线的能级吸收替代目标谱线吸收，达到近似于同光的效果，而目标吸收只是最大化的吸收目标谱线

连线光源只是光源提供的谱线是连续的，但真正用于吸收的都是通过分光产生的不连续的谱线，和空心阴极灯一样，只不过用一只灯替代N只灯而已

和氘灯提供的连续谱带不是一个概念，氘灯扣背景时提供的谱线仍是连续的一个谱带进入吸收空间

首先谢谢XWW428老师多次耐心的帮助，但是老师的寥寥数语对于理解力很差的小女子而言还是有些抽象；老师能否用结合一些简单的图解法来阐述一下临近谱线扣除背景的原理？拜谢啦！

原子吸收分析要校正背景，就要测定背景吸收。理想情况下背景吸收最好和原子吸收在同一个波长位置上测量。
常规的线光源原子吸收系统的光源为HCL，这种光源只能辐射特定元素的谱线，因此也就只能测定这些谱线位置上的吸收，在石墨炉分析中，这些吸收包括待测元素的原子吸收和背景吸收。
塞曼背景校正的模式较多，我们以最常见的横向磁场作用于原子化器的背景校正器为模型进行讨论。当没施加磁场时，在原子谱线的位置上测得总吸收，即元素的原子吸收加上背景吸收。如果加上磁场，吸收谱线发生塞曼分裂，于是只能测得背景吸收。这样二者相减得到扣除了背景的元素原子吸收。
自吸效应背景校正器系统中，HCL光源交替工作于普通脉冲和强脉冲模式下。普通脉冲模式下，光源辐射正常的元素原子谱线，以此测定总吸收。当强脉冲激励HCL时，光源发生自吸或自蚀现象，理想的自吸效应背景校正器要求强脉冲时发生自蚀，即发射谱线明显变宽，并且谱线中心位置下陷至很弱的水平上。用这样的光源照射原子化中的样品蒸汽，恰好测定吸收谱线两侧的吸收强度，即背景吸收。这就是自吸效应背景校正器的原理。
像D2（氘）灯这样的连续光源背景校正器，当用D2灯照射原子化的样品时，由于原子吸收仪器的光谱带宽，即从出射狭缝射出的光的光谱范围较宽（通常大于0.2nm），而原子吸收谱线相对要窄得多（约0.01nm）。这样，用D2灯测定时，对元素的原子吸收不敏感，或曰灵敏度很低。反之背景吸收是宽带吸收，D2 灯测定时灵敏度不会发生变化。这样，用元素灯测定的吸光值减去用D2灯测定的吸光值后，得到的是稍微损失了元素灵敏度，但是背景吸收完全被扣除的信号，从而实现背景校正。
连续光源原子吸收系统干脆使用连续光源（短弧氙灯），而不是HCL。这种光源能够辐射覆盖整个原子光学光谱谱域的光，即190nm~900nm，再配合光谱分辨率高得多的中阶梯光栅色散系统，因此能够获得原子化样品的全部光谱信息，包括每一个波长位置上的原子吸收信息及背景吸收信息。由于背景吸收呈宽吸收模式，因此在一条元素原子谱线两侧测得的背景吸收平均值，可以看成是元素谱线中心位置上的背景吸收。这就是连续光源原子吸收系统的背景吸收原理。
因此，连续光源原子吸收系统本身并不需要额外的背景校正装置，其全谱记录能力以及高光谱分辨能力使它们本身就具备背景校正能力。

耶拿连续光谱真正实现多元素同时测定时，每次都要寻峰，分析时间特别长，样品消耗量大，不实用。

应助达人

多元素测定是石墨炉还是火焰？如是火焰可以理解，如是石墨炉就很感兴趣，请介绍下好吗？

最完美的背景校正方式是所谓的三同：同波长、同分析体积（空间相同）、同时。临近谱线扣背景至少差了一条，即波长不同。
要说三同，目前而言只有日立的双检测器恒磁塞曼系统能够达到，不过直流塞曼背景校正有部分反常塞曼效应的谱线存在相对灵敏度下降的问题。
所以说：世事无绝对。
连续光源原子吸收系统于GFAAS无法实现同时多元素分析，而火焰系统存在分析过程太长，样品消耗量较大等问题，并非好的选择。
让我说的话：横向加热、纵向磁场、交流塞曼背景校正系统可能是目前性能最好的GFAAS分析系统。