hyf271
第14楼2013/11/28
太需要专业知识了,实际中很难操作去测试熔点温度吧,在实验室内。可否有更直接的办法呢?如通过是哪类电子元件,其中的焊锡就是高温熔融焊锡,这样就可以方便简单了。晶体管有又好多种,也遇到了一种可控硅的温度控制型的里面没有铅。
还请高人指点!
ian.cheng
第17楼2013/12/16
由于贴片元件外部引脚镀锡难以拆分,用ICP应该也是混合测试,一般判断豁免是玻璃中的铅。
有些元件内部会有锡点,是高温焊锡的概率比较大。
不知道一些插件电子元件引脚上的镀锡会不会使用高温焊锡??
hyf271
第18楼2013/12/17
很多的黑色片状的电子元件如三极管、或者较大的贴片电阻,拆开后有一金属铜片这个铜片面积大的有1cm2,可以叫明显的看见上面有一层薄的焊锡层。外面的黑色模现在大部分是硬塑的。这种只扫含有焊锡的那部分可以有50-70%的pb,但用ICP混测就讲到10%几了。凭借XRF及ICP的测试结果确立为Pb85%的焊锡,似乎没有充分的说明力。
下面是一个三极管,铜片上有焊锡与及锗,焊锡是那层薄的面积较大的部分。
zhou2003
第20楼2013/12/24
高温焊锡本来应该就是能耐高温的焊锡点,但由于从电子元件中取下焊锡再测试很难操作,而且测试熔点的方法也麻烦,基本不可行,所以ROHS的指令里面规定了铅含量超过85%就可以当做高温焊锡了,因为焊锡点中耐高温的是铅,只要里面的铅超过85%就可以耐高温,可以默认为高温焊锡点,给予豁免,例如像二极管三极管里面的焊锡点就是例子;当然,像PCB上面的又或者像电子元件连接点上的焊锡点用的就是普通焊锡,是不能豁免的,不过如果客户的样品声明是使用了高温焊锡点,而且也检测出里面的铅含量超过85%,也是能豁免的,因为ROHS指令高温焊锡的豁免也没有指定是什么位置的焊锡点,只是说高温焊锡豁免。至于用ICP来确认焊锡点基本没意义,一是ICP是针对低含量的,对于85%的铅用ICP来测试的精确度比不上XRF,二是取样难度大,很难从本体中挖出那颗焊锡,三是如果选择连着本体一起测试,数据只有百分之几,不代表单纯高温焊锡的数据。