不是，相当于杂质定位

基本都是针对目标物，理论塔板数，检出限，色谱峰的光谱信息，多次进样保留时间的重现性，有条件的用双柱法定性，再好点的话上质谱。这些都是色谱确认的手段。
你领导要的好像是方法确认，简单点的话就理论塔板数加上多次进样保留时间的重现性，多点再加上检出限。其他的就简单说一说就差不多吧。如果是要知道杂质是什么，必须有所有有可能的杂质的标准品的色谱，光谱，质谱信息。这还是不太容易实现的。

那就写个类似于操作规程的程序文件,描述一下色谱条件,样品前处理方法,峰面积\保留时间的误差范围