应助达人

这么说标样损耗会很快的，

不是只打一个点，是指一个ICAL样即可，做ICAL时还是要多打几点，已减小偶然误差和避免样品均匀性造成的偏差。

这个技术有个基础要求，就是必须是固态全谱的采集器，现在常用的CCD,CID,和CMOS采集器，除此之外这个技术的真正难度在于大数据量的快速传输和处理，主要在通讯和软件上的谱线识别算法上，只要这两个难点攻破了，也没什么神秘的。尤其是谱线识别和自动寻峰的算法，里面有几个核心，1.波长—像素关系曲线，首先要在每块固态检测器上找到若干条波长标定线（用来找到像素和波长的函数关系），然后每次激发的过程中都对其自动校正，这就要求底层的数据必须全部时时的传输到计算机中，在校正后再从大量的数据中找到需要测量的波长的实际像素位置，然后计算光强——相对光强等等。现代的高科技仪器，对软件算法以及通讯技术的要求真的是越来越高了

余工，现在还在做光谱仪这块？

一直也不明白这个ICAL是怎么原理，现在看到了才明白了

应助达人

确实是现在不但要拼硬件的指标，还要拼软件的功能，软件功能强大了，会省很多麻烦的。

像素偏差校正的功能容易实现。我想知道的是，标准化是用来做强度校正的，用iCAL代替标准化，如何做到对曲线中高低含量不同的样品的强度校正的？毕竟iCAL样品的元素含量是固定的，这个含量的强度变化系数无法等同于其他含量段的强度变化系数的。