支持大神!
nameylf(nameylf) 发表:看到大家的争论,有点头大,不知道从哪儿解释起。实际上,分辨率不是一个简单的指标,更不是代表一种探测器性能的唯一的指标;而且,分辨率都是在特定试验条件下对Mn的Ka线测量得到的试验结果,这些条件包括计数率,成型时间等等。实际上,Si(Li)探测器、Si-PIN探测器、SDD探测器,其分辨率水平都差不多,基本上都可以做到150ev以下,当然这是在最佳试验条件下得到的结果。但Si-PIN和SDD探测器在其他方面有明显的优势。Si-PIN和SDD探测器可以在电致冷下正常工作,而SDD可以在很高的计数率时保持良好的分辨率水平。这些优势在实际使用时都很重要!