SE2是背散射电子溢出表面产生的，不是没有作用，它带有BSE的成分衬度信息，对下探头而言也会增加阴影效应。它的特点也决定了对于体材料，跟se1是伴生的关系。探测器是两者都接收的，se2的信号溢出区小到nm，大到微米，极靴不可能像限制se3一样限制它，能量跟se1一样，也不可能像限制bse一样筛分它，所以不要想用探测器去过滤它，探测器只是接受它俩，只是比例关系多少而已。控制比例不是探测器所能决定的，是靠样品本身和加速电压，如果样品像tem样品一样，那se2必然很少；还有就是加速电压，很高的加速电压，se2可以认为是背景噪声，反而对se1的空间分辨率影响不大，很低的电压，se2略大于se1，从而很少再做区分。

伯爵山(Ins_91e7d720) 发表: 反正意思就是 SE2是杂散电子 属于背景噪声 量越少越好 越高角度的探测器 探测到的SE2越少 图像信噪比越好

也不见得都是SE1的，只是SE1占主导了，如果环状探头的内径太小，角度更高的还有高角度的BSE，甚至会有电位衬度像。目前没有一个方案敢说可以采集100% SE1