我不是什么高手，说说自己的意见。高频感抗一般都是由于导线的电感产生的，特别是在低阻抗体系中，特别明显。而在某些高阻抗体系中，则不会出现。要解释这个问题，利用体系的等效阻抗计算公式来理解，比较方便。实际上就是比较，在高频区导线电感产生的阻抗与测试体系产生的阻抗值的大小。腐蚀体系大都有比较大的溶液电阻存在，会遮盖掉导线电感的影响。
EIS中如果感抗弧出现在中低频区，那一般都是与表面状态相关了。这是很复杂的问题，国外这几年在这方面有许多很好的研究论文，不妨搜集起来看一看。
用EIS研究电沉积过程，数据的解释是比较困难的，因为电沉积是一个不可逆过程，从数学上讲，非线性的成分很大，而EIS的理论基础则是线性响应。采用拟合电路研究电沉积，可能不是一个好的手段，如果直接从第一原理出发，进行计算拟合，会得到更准确可靠的数据。

看不懂

受益匪浅！

测很高频的时候，有时候还有弯弯扭扭的一堆乱线，更一头雾水了。