显然两张TEM像不是在同一样品区域拍照的，是吗？

高倍像所在区域,样品 is sitting on the carbon surpporting film. 而低倍像显示的区域里，样品则 is crossing the hole. 所以，很难直接比较这两张像。

从第二张像也很难得出结论认为材料结构是无序的，因为，一是这张像所用的离焦量比较大。二是，样品相对于电子束的取向不清楚。配一张选区电子衍射照片，会有助于结构分析。

另外，我不熟悉这种材料，但从所提供的两张TEM像来看，该样品应该容易受电子辐照损伤。因此，在实验过程中要尽量减少电子剂量，在结果分析中也要考虑到这一因素，正如shxie在回帖中所述。

[quote]原文由 jhmn 发表:显然两张TEM像不是在同一样品区域拍照的，是吗？

高倍像所在区域,样品 is sitting on the carbon surpporting film. 而低倍像显示的区域里，样品则 is crossing the hole. 所以，很难直接比较这两张像。

从第二张像也很难得出结论认为材料结构是无序的，因为，一是这张像所用的离焦量比较大。二是，样品相对于电子束的取向不清楚。配一张选区电子衍射照片，会有助于结构分析。

另外，我不熟悉这种材料，但从所提供的两张TEM像来看，该样品应该容易受电子辐照损伤。因此，在实验过程中要尽量减少电子剂量，在结果分析中也要考虑到这一因素，正如shxie在回帖中所述。

谢谢您！确实如您所说。该材料容易受电子辐照损伤，怎么样避免或是减少呢？在实验过程中要尽量减少电子剂量时，怎么做呢？我到时候可以提醒帮助做试验的老师。再次感谢！

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