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  • 金水楼台先得月

    第21楼2011/08/30

    全反射的检测器分辨率达到多少？

    291943731q(291943731q) 发表:如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

    以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

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  • 金水楼台先得月

    第22楼2011/08/30

    现在电制冷的产品有哪些？

    zbb1982(zbb1982) 发表:Si-Li探测器的测试效果确实比SiPIN或者是SDD的都要好，但是有一个缺点就是环境温度要求比较高，一般的Si-PIN,SDD要求的环境在-40度，但是Si-Li的要求在-90度，用电制冷的方法比较难实现，一般使用液氮制冷，如果能用电制冷的话，以后将会是一个趋势了

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  • zbb1982

    第23楼2011/08/30

    美国有AMPTEK，MOXTEK，德国有PNsensor，探头的制冷方式也分一级，二级，一般二级制冷比较稳定，比较容易实现产业化

    金水楼台先得月(albert800922) 发表:现在电制冷的产品有哪些？

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  • zbb1982

    第24楼2011/08/30

    楼主的这个设想估计比较难实现，能散想超过波散比较难的，能量色散的精度要靠电子元件本身的精度，温度的影响，电子噪音的影响，幅度的采集精度去保证，而波散主要是考机械运动控制精度和光学器件去保证，所以估计非常难。

    291943731q(291943731q) 发表:如今的电制冷小型SDD检测器分辨率可以到达132—140ev，Be窗膜厚度仅8微米。

    以后还会提高，精度和准度肯定会超过波散的，WD-XRF几十年没有什么大的进步了，ED-xrf倒是突飞猛进，像全反射ed-xrf市场化产品已经LLD达到几十ppb，实验室设备检测线更低（实验环境影响）。

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  • 老虎呦

    第25楼2011/08/31

    电子元件本身，温度精度，噪声这些会随着技术发展，这不是问题关键。保证波散的机械运动控制精度和光学器件还有多大的发展空间？？？波散发展的技术前景能否展望一下？？

    zbb1982(zbb1982) 发表:楼主的这个设想估计比较难实现，能散想超过波散比较难的，能量色散的精度要靠电子元件本身的精度，温度的影响，电子噪音的影响，幅度的采集精度去保证，而波散主要是考机械运动控制精度和光学器件去保证，所以估计非常难。

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  • 老虎呦

    第26楼2011/08/31

    当然随着sdd检测器分辨率走呀。

    金水楼台先得月(albert800922) 发表:全反射的检测器分辨率达到多少？

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  • zbb1982

    第27楼2011/08/31

    波散的分辨率主要不是靠探测器决定的，估计大多数人听了都感觉很惊讶，波散的测试原理是不同波长通过分光后出射到不同的角度，所以更大程度上是由分光晶体和光路的设计来决定的。波散的探测器更多的是用来做为一个记数器来用。所以他的电信号的处理比XRF的处理要相对简单很多。这也是我所说的，能散要超过波散比较难的原因，因为现在的光学器件的技术都可以做到很高了，但是由于XRF是直接对电信号的幅度进行分析，所以精度不可能比波散高。不过用全反射的话他的原理和通常的EDX XRF原理不一样，它是可以做到很底的，全反射是基于光学的折射，反射现象，由于全反射对样品的前处理要求比较高，也比较麻烦，而它测试的检出限又不比ICP，质谱等的实验室仪器好，所以应用比较窄，目前用得比较多的还是在半导体硅片中的杂质分析。

    291943731q(291943731q) 发表:当然随着sdd检测器分辨率走呀。

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  • huanghaiyan0904

    第28楼2014/08/27

    谢谢

    本人做德国Bruker的全反射X射线荧光光谱仪（TXRF），刚好学习对比下
    18221083873

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