受教了,认真学习了老师的回复。 大家都比较重视精修的过程和结果,但往往忽视了制样和扫描的过程,有一个良好的测试原始数据比什么都重要。
iangie(iangie) 发表:先说你峰形的问题:Ni S P这样重吸收样品,如果有峰形非对称,那基本上不是因为Absorption的穿透造成的。应该取消Absorption correction。
而且非对称峰都在低角处,证明是axial divergence造成的。Instrument中Axial Convolution没设对!如果不知道仪器参数的话建议refine Simple Axial Model!
样品峰形的Microstructure里为什么不修Cry Size L 和 Strain L?
谁让你用11阶背景的?这么平的背景,用5阶加1/X足矣。
再说数据的问题:
你没发现很多小峰没扫到吗?小峰都淹没到背景中了!你修的结构能对了?
那么高的Ni荧光背景是怎么造成的? CuKβ!
把Ni滤片放在光管入射线一侧, 重扫数据!