学习了

同意，现在市场上有五家厂商可以生产SDD能谱探头。

技术最领先的是BRUKER，就是原来的RONTEC。
OXFORD有XACT的SDD探头。
EDAX有叫APPOLO的SDD探头。
E2V有叫SIRIUS的SDD探头。
SEIKO SII有叫VERTEX的探头。

除了SII的VERTEX和BRUKER，其余三家都是自主开发设计的， VERTEX是美国RIDIANT公司的产品，SII买断了他们的整个公司。
RONTEC是德国公司，美国BRUKER讲其并购。

不过到头来，所有五家的SDD芯片都来自一个地方，所有探头的超薄窗也都是一个公司生产的，哈哈。BRUKER能够领先其余四家的主要原因是他们和SDD供应商的关系非同一般。

SDD探头在仪器维护方面有明显的优点，在信号很强的时候做Mapping和EBSD也很有用。

请问在X-ray信号很弱的时候（比如TEM薄样品）SDD探头在探测灵敏度方面是不是不如Si(Li)？

您多虑了，在信号弱的时候SDD和Si(Li)相比还是有优势只不过优势不如高计数时那么明显，至于您所说的探测灵敏度的问题，我想应该是探测极限吧？对能谱而言探测极限都是一样，无论SDD还是Sili都是0.1％,当然这个都是理想状况下的探测极限，实际很难达到。

各位强呀
哈哈

没有E2V强！

您对E2V很熟悉吗，我还以为没有人比我更熟悉他们了呢

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蒙您抬爱，了解都说不太上不敢说熟悉，您在国外又跟各大能谱商那么密切，没您熟，我这还得扇风添柴，还年轻还有好多东西要学习（要学的也太多了 ），况且了解技术跟实际应用还有很大的差距！期待国产！！！！