太阳能电池薄膜椭偏仪测试

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:conf106
  3. 上传时间:2009/6/12 17:33:21
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简介:

1、 SE 400adv不仅能测量单晶硅样片,还能测量多晶硅样片; (我们可提供真实样片测试报告供参考,用户也可提供样片、我们帮助测量) 2、 SE 400adv能测量实际工艺线生产的产品、即粗糙表面的“绒片”(如Textured Silicon),这是业界唯一的;对抛光片的测量精度、准确度也是业界第一; (我们可提供真实样片测试报告供参考,用户也可提供样片、我们帮助测量)

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