中瑞祥粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪 HHY8-FZ-2010

粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪 HHY8-FZ-2010 HHY8-FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪是本公司根据能源方面，与其是锂电池术的研究需求，开发的新型粉末电阻率测试仪。 本产品参照有关际标准设计，配置粉末测试台或四探针测试台，可以对粉末、片状、块状半导体材料以 及固态金属行电阻、电阻率、方块电阻等多用途测量。 测量范围：电阻10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。 电阻率 10-4---106，分辨率1μΩ. ㎝。 薄层电阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ，分辨率10-5 Ω/□。 测量电压量程：0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v，分辨率0.1μν，测量度 ±（0.3%读数+2字）。 测量电流：0--100mA 连续可调。电流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。 粉末测量：1、试样粒度--标准筛网40目以上直至纳米材料。 2、试样容器---内腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、试样度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。测量误差±0.1mm。4、取样压力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 )，压力量程--0~200kg可调。 固体薄膜及半导体测量：四探针测试架---1、探针间距1mm±0.03mm；2、探针游移率﹤±0.3%；3、可测材料尺寸--直径φ15~160mm，长度〈400mm。 显示方式：3?位数字显示电阻、电阻率、压力、度。单位、小数点自动显示。 电源：220±10% 50HZ~60HZ 率消耗〈150W。 外形尺寸： 440mm×120mm×420mm。