锤子
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粉末电阻率测试仪半导体粉末电阻率测试仪 HHY8-FZ-2010 HHY8-FZ-2010半导体粉末电阻率测试仪是本公司根据能源方面,与其是锂电池术的研究需求,开发的新型粉末电阻率测试仪。 本产品参照有关际标准设计,配置粉末测试台或四探针测试台,可以对粉末、片状、块状半导体材料以 及固态金属行电阻、电阻率、方块电阻等多用途测量。 测量范围:电阻10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。 电阻率 10-4---106,分辨率1μΩ. ㎝。 薄层电阻 10-3 ---- 107 Ω/□ ,分辨率10-5 Ω/□。 测量电压量程:0.2mv\2mv\20mv\200mv\2v,分辨率0.1μν,测量度 ±(0.3%读数+2字)。 测量电流:0--100mA 连续可调。电流量程 1μΑ、10μΑ、100μΑ、1mΑ、10mΑ、100mΑ。 粉末测量:1、试样粒度--标准筛网40目以上直至纳米材料。 2、试样容器---内腔φ16.30±0.1mm或φ6±0.1mm。 3、试样度---16mm±0.5mm或6~20mm±0.1mm。测量误差±0.1mm。4、取样压力--4Mpa±0.5Mpa(40kg/cm2 ±0.5kg/cm2 )或8Mpa±0.5Mpa(80kg/cm2 ±0.75kg/cm2 ),压力量程--0~200kg可调。 固体薄膜及半导体测量:四探针测试架---1、探针间距1mm±0.03mm;2、探针游移率﹤±0.3%;3、可测材料尺寸--直径φ15~160mm,长度〈400mm。 显示方式:3?位数字显示电阻、电阻率、压力、度。单位、小数点自动显示。 电源:220±10% 50HZ~60HZ 率消耗〈150W。 外形尺寸: 440mm×120mm×420mm。
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