X射线荧光光谱法进展(3)

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  2. 上传人:一滴甘雨
  3. 上传时间:2005/8/6 14:50:25
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简介:

 X射线荧光光谱法进展(3

——XRFA技术进展

1.1 同步辐射X射线荧光(Synchrotron Radiation-X Ray Fluorescence, SR-XRF)分析

    作为XRF的一种新光源,同步辐射利用储存环中高速运转电子来激发试样,由于其具有高亮度、稳定性好、光谱范围广、连续可调和发射角小、准直性好、光束偏振、背景很低的优点,引起分析化学家的极大兴趣。SR-XRF可以在微米级范围内进行元素定量,检出限达到1× 10-15左右,而且由于 SR-XRF是选择诱发 X射线发射光谱,吸收限的化学漂移反映了化学环境内层电子束缚能的系统变化,用SR-XRF分析μg/g级或10-10g痕量元素的化学态是可能的。可以用 SR-XRF分析环保样品中ng/g级的痕量元素,借以研究环境中重元素和其他痕量元素的显微分布。20世纪90年代以来,北京同步辐射装置(BSRF)、国家同步辐射实验室(NSRL合肥)及同步辐射研究中心(SRRC新竹)相继投入运行,为各领域的科学家提供了良好的实验光源。第三代同步辐射光源和全反射 X射线荧光技术相结合,有可能将检测限降至10-18g。

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