消耗积分 : 免积分
随着工业过程复杂化的增加,需要更严格、更高质量的分析,以确保产品符合所有质量和可靠性标准。由于扫描电镜(SEM)可以提供样品表面微观结构的详细(纳米级)信息,因此已成为实验室进行现代研发以及失效分析和故障排除的常用工具。扫描电镜通常与 X 射线能谱仪(EDS)结合使用,将形貌特征和元素信息结合起来。
<< 查看更多
打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。
Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪
赛默飞电镜(原FEI)
K-Alpha X射线光电子能谱仪
EscaLab QXi X射线光电子能谱仪
锤子