ICP-AES讲座：16.干扰

ICP-AES讲座：16.干扰

由于ICP的高温和具有很高的电子密度，所以化学干扰是微不足道的。只有当易电离元素大量存在时，才需考虑电离干扰。ICP光谱分析中存在的主要干扰为光谱干扰和基体效应。

 1）光谱干扰。光谱干扰概括为三种情况：① 谱线直接重叠。② 谱线部分重叠。③ 背景漂移。前两种干扰的消除可采取另选谱线的办法或者用元素间的数学校正系数进行校正。而背景漂移需要在谱线两边测背景，进行背景的校正。目前生产的ICP光谱仪，通过实验后设置参数，都可自动进行校正。

数学校正是通过干扰实验，求出干扰元素对被干扰元素的干扰系数，来校正光谱线的重迭干扰。

如A元素受B元素的谱线干扰，可列式子为：

                      C_A＝C^_A － KC_B

式中：C_A——A元素的真实浓度；

   C^_A——A元素的表观浓度；

   C_B－－干扰元素B的实际浓度；。

   K——B元素对A元素的干扰系数。

 在实验过程中，如果K值取得正确，输入计算机后，干扰元素浓度C_B被准确测出时，就可得到准确的C_A浓度。

 但是对于纯金属的杂质分析，如果纯金属基体对某痕量杂质元素有干扰，则该方法的使用将受到限制，因为C_B的测定浓度很大，超过线性范围；如果降低C_B的浓度，则痕量元素浓度又受到检出限的限制，因此，只能在一定范围内使用。在测定系数K时，B元素的纯度要高，特别不能含有被干扰元素A。

2）基体效应。它是因基体成分的变化而引起的干扰效应，基体效应有两种类型：① 基体成分的增加使雾化率降低。当溶液中所含酸的浓度以及溶解固体量增加时，溶液的密度、粘度、表面张力也增大，使雾化率降低，分析元素测定的信号强度也随之降低。各种无机酸的影响按以下次序递增：HCl＜HClO₄＜H₃PO₄＜HNO₃＜H₂SO₄。一般都不用磷酸和硫酸作ICP分析的介质，而以盐酸和高氯酸为最佳。② 基体成分的变化影响分析元素的激发过程，从而影响其信号输出。例如大量钾、钠、镁和钙的存在能使背景增加，使其他分析元素的信号受到抑制。其基体效应按下列次序增加：K＜Na＜Mg＜Ca。

 总的来说，ICP光谱分析的基体效应相对较小。克服基体效应最有效的办法是使标准溶液与试样溶液进行基体匹配。内标法也是一种好办法。