芯片老化高低温实验箱使用方法

  1. 类别:其他资料
  2. 上传人:广皓天
  3. 上传时间:2023/3/11 10:53:36
  4. 文件大小:24K
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简介:

电子电器零组件、自动化零部件通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。

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