半导体器件及其制造方法.pdf

  1. 类别:专利
  2. 上传人:wuyuzegang
  3. 上传时间:2023/4/19 19:29:03
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简介:

一种半导体器件的制造方法,包括如下步骤:在衬底上方形成第一绝缘膜,在第一绝缘膜上方形成半导体薄膜,使用高频波在大于等于1×1011cm2并小于等于1×1013cm-3的电子密度和大于等于0.5eV并小于等于1.5eV的电子温度的条件下通过对半导体薄膜实施等离子体处理来氧化或氮化半导体薄膜,形成第二绝缘膜以覆盖半导体薄膜;在第二绝缘膜上方形成栅电极;形成第三绝缘膜以覆盖栅电极;以及在第三绝缘膜上方形成导电薄膜。

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