X射线荧光光谱法进展（5）

——XRFA技术进展

1.3 粒子激发X射线发射（PIXE）分析

    由粒子（如质子、α粒子等）激发的X射线发射分析，自20世纪70年代出现以来己发展为一门相当成熟的核分析技术。国际上平均每年的论文数约为120篇。近年来最为注目的发展是经良好聚焦的带电粒子束可提供优于1μm的分辨率。加上PIXE良好的检出限，可以使检出的元素降至10^-17g／μm，目前己广泛应用于生物、环境、医学、地球化学、固体物理及考古等领域。

PIXE-XRF是一种用粒子轰击原级靶，产生近乎单色X射线的XRF分析方法。与传统PIXE相比有二个优点：通过选择合适的原级靶材，可消除样品中主量元素所引起的谱线干扰；其次，大大减轻了对试样的损伤，利用透射靶比用反射法获得的特征X光产额高二个数量级，使薄、厚样的检出限达到亚ppm级。

    通常要用加速器把兆电子伏能量的质子或α射线束以几毫弧度的立体角入射到样品表面，可检测到10¹⁰原子/cm² 。

最著名的PIXE应用是轻便α粒子光谱仪被发射到火星上，探测火星的岩石和土壤。