半导体行业高低温老化性能测试方法
- 类别:操作维修手册
- 上传人:荣计达仪器
- 上传时间:2023/7/14 9:02:16
- 文件大小:11K
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简介:
高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。
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