GBT 4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分：强加速稳态湿热试验（HAST）.pdf

1 范围 GB/T 4937的本部分规定了强加速稳态湿热试验(HAST)方法，用于评价非气密封装半导体器件在潮湿的环境下的可靠性。 2 强加速稳态湿热试验(HAST)—一般说明 强加速稳态湿热试验通过施加严酷的温度、湿度和偏置条件来加速潮气穿透外部保护材料(灌封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。此试验应力产生的失效机理通常与“85/85”稳态温湿度偏置寿命试验(见IEC60749-5)相同。试验方法可以从85℃/85% RH稳态寿命试验或本试验方法中选择。在执行两种试验方法时，85℃/85% RH稳态寿命试验的结果优先于强加速稳态湿热试验(HAST)。 本试验方法应被视为破坏性试验。