GBT 4937.23-2023半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命.pdf
- 类别:标准
- 上传人:德瑞检测设备
- 上传时间:2023/8/28 10:05:42
- 文件大小:2176K
- 下载次数:5
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简介:
1 范围
本文件描述了随时间的推移,偏置条件和温度对固态器件影响的试验方法。该试验以加速寿命模式模拟器件工作,主要用于器件的鉴定和可靠性检验。短期的高温偏置寿命通常称之为老炼,可用于筛选试验中剔除早期失效产品。本文件未规定老炼的详细要求和应用。
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