GB/T 4937.12-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分：扫频振动

1 范围 GB/T4937的本部分的目的是测定在规定频率范围内，振动对器件的影响。本试验是破坏性试验，通常用于有空腔的器件。 本试验与GB/T 2423.10—2008基本一致，但鉴于半导体器件的特殊要求，采用本部分的条款。 2规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 2423.10—2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc:振动(正弦) (IEC 60068-2-6:1995,IDT) 3试验设备 本试验所需设备包括能在规定条件下进行扫频振动的振动装置，以及试验后进行测量所必需的光学和电气设备。