GB/T 12085.8-2022 光学和光子学 环境试验方法 第8部分：高内压、低内压、浸没

1 范围 本文件描述了光学和光子学高内压、低内压、浸没的环境试验方法。 本文件适用于光学和光子学仪器包括来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的高内压、低内压、浸没试验。 4试验条件 光学和光子学仪器的耐压试验采用下述三种方法： ——条件试验方法80:高内压； ——条件试验方法81:低内压； —条件试验方法82:浸没。 条件试验方法80的环境条件为清洁的干燥空气或氮气，相对湿度小于30%。 条件试验方法82用于在使用期间可能遭到浸没的仪器。浸没试验应使用软水并在敞开的水箱里或水压室中进行，浸没的深度根据试样的最高部位决定，水温应在10℃～25 ℃之间，暴露期间试样的温度不应低于水温，但也不应超过水温10 K。