GB/T 12085.22-2022 光学和光子学 环境试验方法 第22部分：低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验

1范围 本文件描述了光学和光子学低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验的环境试验方法。本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域的组件(如机械、化学和电子设备)的低温、高温或温度变化与碰撞或随机振动综合试验。 4试验条件 在综合作用力条件下，对暴露的试样进行的试验，要比前述任何示例环境条件试验更为严酷。施加的综合低温、高温或温度变化和碰撞或随机振动应力条件应与实际使用条件相符合。寿命试验时，为了 缩短试验时间，激发损伤，采用严醋程度较高等级的综合试验方法，如老化、磨合或环境应力筛选。 老化、磨合或环境应力筛选是对光学和光子学仪器以及包含光学部件和电子组件的试验方法。在系统关机或开机、运转、贮存、运输或其他温度循环状态下，该方法综合正弦或随机振动和过压或电压不足时运转的试验。