GB/T 5170.17-2005 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温/低气压/湿热综合顺序试验设备

1 范围 1.1 本部分规定了低温/低气压/湿热综合顺序试验设备在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。 1.2本部分适用于对GB/T 2423.27—2005《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》所用试验设备的周期检定。 本部分也适用于类似试验设备的周期检定。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T 5170的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T 2423.27-2005电工电子产品基本环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AMD:低温/ 低气压/湿热连续综合试验(IEC 60068-2-39:1976,IDT) GB/T 5170.1—1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则GB/T 6999 环境试验用相对湿度查算