鼎竑离子减薄仪 GU-AI9000 减薄硅片
- 类别:其他资料
- 上传人:广州领拓
- 上传时间:2024/1/23 14:23:38
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简介:
上透射电镜拍摄的样品薄片的厚度不能超过200纳米,因此在上透射电镜前要进行前处理,离子减薄仪的作用就是将样品薄片减薄至200纳米以下。硅片在生活中很常见,且在电子电器行业中也使用的非常多。
本文使用了鼎竑离子减薄仪GU-AI9000对硅片进行了减薄。
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