X射线荧光光谱法进展（8）

——XRFA技术进展

1.6  X射线吸收光谱分析(XAFS)

主要依靠对X射线吸收端精细结构的测量来分析元素的价态及配位。因而需要高分辨率的波长色散双晶甚至三晶光谱仪。多次色散虽提高分辨率，但又降低谱线强度，因而又需要强的激发源。而第四代同步辐射X射线脉冲源提供足够的亮度。最重要的应用领域仍然是催化剂、元素和分子化学及材料科学。

1.7 电子探针微区分析(EPMA)

    小体积不均匀样品的分析，以纳米级的空间分辨率提供定量元素分布图。这种程度的空间分辨能力可检测到薄样中的几个原子，离人们追求的ED单原子检测已不远。

    最近又引入高分辨(STJ或微热量计)及薄探测器窗(200nm聚合物)的应用。进一步扩展其对轻元素的应用，可测量到C、O、N(即气溶胶微粒的主成分)。