X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:lidonglei
- 上传时间:2005/9/17 13:59:55
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简介:
采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Nb、Zr、Y、Sr、Th、V等组分进行测定。重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重
叠校正问题。使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合。
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