产品手册—Nano Indenter? G200XG200X 纳米力学测试仪

Nano Indenter® G200X 系 统是精确、灵活、方便易用 的纳米级力学测试设备。 G200X 能够测量从纳米级至 毫米级超过六个数量级的变 形、硬度和杨氏模量。该系 统还可以测量高聚物、凝胶和生物组织的复合模量，以及 金属薄膜的蠕变响应（应变率敏感度）。模块化系统选项 可以完成各种不同应用：特定频率测试、定量划痕和磨损 测试、集成探针成像、高温测试和自定义测试协议等。 除了能促进高校科研之外，Nano Indenter G200X 还可以 为以下的材料和行业提供纳米压痕测量和扫描探针显微成像 主要功能 高度模块化设计, 既具有最为宽泛的测 试功能，又可提供高通量的自动化测试 功能，并配有统计数据分析包，适用于纳 米力学性能测量、扫描探针显微成像、高 温测量和IV电压电流特性测试试 大量预编程微纳力学测试方法，简单易用 荷载范围从 1µN 到 1N，能够测试包括软 质高聚物和硬质材料在内的各种材料 NanoBlitz 3D力学谱图测试功能为用户 提供数据可视化和强大的统计数据分析 处理功能。可升级 NanoBlitz 4D 选 项