薄膜测厚仪校准指南及技巧

  1. 类别:其他资料
  2. 上传人:赛成仪器
  3. 上传时间:2024/6/17 15:37:35
  4. 文件大小:81K
  5. 下载次数:0
  6. 消耗积分 : 免积分

收藏

简介:

在工业生产和科研领域中,薄膜测厚仪是一种常用的设备,用于测量薄膜、涂层等材料的厚度。为了确保测量结果的准确性和可靠性,薄膜测厚仪的校准至关重要。本文将详细介绍薄膜测厚仪的校准方法、步骤和技巧,帮助您正确进行校准操作,提高测量精度。 首先,进行薄膜测厚仪的零点校准是至关重要的。零点校准是指在没有样品的情况下将仪器调零,保证测量的基准值为0。在进行零点校准时,需要确保仪器处于稳定的环境条件下,避免温度变化和振动对校准结果产生影响。根据具体的仪器型号和企业说明,按照操作手册指导进行零点校准,确保每次测量的起点准确无误。

打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。

  • 注意:
  • 1、下载文件需消耗流量,最好在wifi的环境中下载,如果使用3G、4G下载,请注意文件大小
  • 2、下载的文件一般是pdf、word文件,下载后如不能直接浏览,可到应用商店中下载相应的阅读器APP。
  • 3、下载的文件如需解压缩,如果手机没有安装解压缩软件,可到应用商店中下载相应的解压缩APP。