纳米级材料尺寸如何测量?
- 类别:其他资料
- 上传人:中图仪器
- 上传时间:2024/7/9 10:41:22
- 文件大小:1124K
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简介:
基于纳米传动与扫描技术、白光干涉与高精度3D重建技术、共聚焦测量等技术积累,自主知识产权的白光干涉仪(Z向分辨率可高达0.1纳米)和共聚焦显微镜,广泛应用于半导体、3C电子、高校科研等行业领域。
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