X 射线粉末衍射的新起点—Rietveld 全谱拟合

XRD的定量分析，尤其是多相晶体的定量分析，一直是XRD的应用难点，传统的定量分析方法包括内标法、外标法等。但是，这样的分析只能针对单相或简单物相有用，且从本质上讲还是半定量，工程应用可能性极小。 XRD-Terra使用Rietveld 全谱拟合法，使定量分析真正实现了突破。 Rietveld 全谱拟合法及高分辨X 射线粉末衍射实验方法的出现与发展, 使X 射线粉末衍射进入了一个新阶段, 不但提高了分析结果的质量, 并且使从头晶体结构测定成为可能。本文扼要介绍了Rietveld 全谱拟合法的理论; 高分辨高准确的粉末衍射装置, 从头晶体结构测定方法及多晶材料结构表征的全谱拟合法(包括作物相定性分析、物相定量分析、晶粒大小及点阵畸变的测定等)。