X射线荧光光谱法进展（16）

——XRF分析方法进展

2.4 基本参数法（FP法）的其它进展

（1）基于滤光片分析的FP法（传统X射线荧光FP法分析受仪器常数的限制一般不得使用滤光片分析），适用于贵金属元素分析和存在妨害线样品的分析，特别适合能量色散X射线荧光EDX装置FP法分析。

（2）定量工作曲线法（EC法）与基本参数法（FP法）的混合定量分析。许多新材料难于获得成套体系标样，有时只是主元素才有化学定量数值，采用少量标样的定量FP法和混合定量分析是实用的解决问题的方法。

（3）内标基本参数法。运用内标法提高定量工作曲线法的准确性已见许多报道。对于基本参数法，内标法同样可以提高准确度和扩展有效分析范围。对于硅酸盐矿物，康普敦散射线内标在基本参数法应用，铁矿石类样品的ISO内标法（Fe Kβ与Co Kα比值法）的基本参数法，已见于报告。其它元素内标，也有个别报道。在高级次谱线分析基础上，使用内标基本参数法，可以更高置信度地解析轻元素和超轻元素的FP分析问题。