HYA2010-C4比表面积及孔隙率测试仪

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:晖玉科技
  3. 上传时间:2010/10/8 15:03:03
  4. 文件大小:570K
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简介:

1. 测试方法:借助于气体吸附原理,静态真空容量法。 2. 测量范围:比表面积0.0005m2/g(氪气吸附)至无上限。孔径分析范围:0.35nm-500nm。 3. 测量精度:重复性误差〈±0.15% 4. 主机功能:借助于气体吸附原理(典型为氮气),吸附、脱附等温线测定。Langmuir比表面积测定。BJH介孔、大孔分析。 BET比表面积测定。t-plots图法微孔分析,以及外表面积测定。as-plots微孔总面积。MP法微孔分析。可以升级可进行DFT密度函数理论;包括NLDFT理论等。(注:测微孔必需加装分子泵)

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