X荧光光谱分析仪生料工作曲线的标样配制

我国的x射线荧光光谱分析现已具有相当规模，尤其是现有大中型水泥企业，为了提高产品质量，实现快速准确分析样品，已广泛采用了X射线荧光仪对样品进行分析。荧光仪虽然具有分析速度快精度高的优点，但如果标样配制不好，工作曲线不理想，荧光仪就很难发挥它的优势，因此如何配制好标样以确保荧光仪的准确分析，是用好荧光仪发挥荧光仪优势的前提条件。X射线荧光仪对标样的基本要求是： (1)标样的化学含量准确可靠； (2)标样的化学组成和物理性质与待测样品一致； (3)物理、化学性质稳定，便于长期保存和使用； (4)具有多个含量不同的标样系列，标样的元素含量范围应覆盖待测样品中元素含量极大值和极小值。笔者根据多年来的实践和总结，谈谈关于标样配制的一些体会和见解。 X射线荧光分析有两种制样方法一压片法和熔融法。熔融法分析精度较高，但制样成本也高；我公司使用压片法，这种制样方法的误差来源主要是试样的基体效应。由于我公司矿山石灰石SiO：含量不稳定，导致生产中石灰石SiO：含量有时高达8％ 左右，有时低达1％左右，但一般情况下在4％左右。我们原来配制的生料标样用的是中硅石灰石，即SiO2含量在4％左右，用此标样建立的工作曲线在实际生产应用中由于石灰石硅含量的波动，受基体效应影响，造成分析数据的误差较大