PARAM博每 HST-H3热封试验仪技术资料

  1. 类别:仪器样本
  2. 上传人:labthink
  3. 上传时间:2011/3/30 8:53:10
  4. 文件大小:246K
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简介:

PARAM博每 HST-H3热封试验仪技术资料 热封试验仪采用热压封口法测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸及其它热封复合膜的热封温度、热封时间、热封压力等参数。熔点、热稳定性、 流动性及厚度不同的热封材料,会表现出不同的热封性能,其封口工艺参数可能差别很大。热封试验仪通过其标准化的设计、规范化的操作,可获得精确的热封试验指标。 更多技术资料请下载附件查看!

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