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锤子
二次离子质谱分析技术及应用进展
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：无机麦地
- 上传时间：2011/6/23 21:08:52
- 文件大小：244K
- 下载次数：21
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简介：
二次离子质谱(S I M S)比其他表面微区分析方法更灵敏。由于 应用了中性原子、 液态金属离子、 多原子离子和激光一次束, 后电离技术, 离子反射型飞行时间质量分析器, 离子延迟探测技术和计算 机图像处理技术等, 使
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