各种薄膜的膜厚测定—UV

  1. 类别:分析方法/应用文章
  2. 上传人:上海纳锘实业
  3. 上传时间:2011/7/29 9:22:19
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简介:

■说明 测定物质的膜厚有各式各样方法,而用紫外,可见分光光度计,可进行简单的无损测定。本文探讨了用紫外、可见分光光度计可测定多少厚度的膜厚。 用分光光度计测定,膜的表面和里面的反射光互相干扰,得到波动的干涉光谱。厚度可计算在一定波长范围内的光谱上的波数而求出(但需有膜物质的折射率)。 膜越薄,光谱上的波数越减少,越厚越增加。这次测定了薄膜和厚膜的界限。 …… 纳锘仪器 做为岛津公司上海地区授权代理商,向您提供全方位的服务, 如欲了解更多该产品信息,可来电咨询 021-61610135 ---------------------------------------------------------------------------  上海纳锘仪器有限公司  地址:上海市莲花南路1388弄8号楼碧恒广场1503室[201108]  电话:021-60900829,60900830,61131031,61131051  传真:021-61131052  E-Mail:info@nano-instru.com

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