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锤子
简介：
X射线荧光光谱法进展（28）
——XRF分析仪器的发展
3.2.12 超导探测器
超导探测器是近几年的热门研究领域，有两种超导探测器已在研究中使用。
A 超导隧道结探测器（STJ )
X射线与超导体的相互作用导致Cooper对的破坏和过量准粒子和声子的产生，由超导-绝缘体-超导隧道结或其阵列探测这些准粒子的激发。与半导体材料产生电子-空穴对相比，由于超导的能量间距非常小，其可实现较好的能量分辨率和灵敏度。
可提供较高的计数率（104cps），极佳的能量分辨率(10～15eV )。这样的分辨率可与波长色散光谱仪相比。其理论检测限较常规Si半导体探测器高出约30倍。
STJ需工作在500mK或更低的温度下。因而STJ探测器的重要部分是He低温恒温器。
STJ的工作面积只有200μm×200μn，虽面积可增加，但分辨率要下降。可在探测器与样品之间使用X射线聚焦元件(多毛细管透镜)，或使用阵列型探测器来增大探测立体角。
B 微热量计
微热量计是基于对在极低温度下热敏元件吸收X射线造成的温度上升的灵敏测量来工作的。可提供比STJ更高的能量分辨率(2～5eV)。由于吸收装置回复到平衡状态的过程很慢，因而最大工作计数率较低(约500cps)。而且其需要工作在更低的温度下(约70mK) o打开失败或需在电脑查看，请在电脑上的资料中心栏目，点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。
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