LED芯片计数分析仪系统实测视频(上下广告间点下载)

该套计数分析仪器（LC-Y拍照成像型、LC-S扫描型）整合了高清晰度数字技术来鉴别最困难的计数问题。该LED芯片专用计数仪通过高速的图像获取及视觉识别处理，准确、快速地计数LED芯片，操作简单，使用方便。用于LED芯片外延片面积测试，同样也适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。 该仪器包括新型的照明配置，以确保均匀一致的照明和LED目标增强。软件能导出每次计数分析的结果至EXCEL表等。 LC-S扫描型还可以分析计数二极管芯片、滤纸杂质颗粒、透明光栅片等。