X射线荧光光谱法(25):定量分析方法-1

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  2. 上传人:一滴甘雨
  3. 上传时间:2003/9/20 16:39:00
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简介:

X射线荧光光谱法(25

4  定量分析方法-1

 

    X射线荧光分析法基本上就是一种测量样品产生的X射线荧光强度,然后跟标准样品的X射线强度对比的比较方法。

没有标样时也可利用增量法,即在未知样品中添加一定量的分析元素或含分析元素的物质(与测定物质化学组成类似的物质),据含量与X射线强度变化求得分析值。

 

 

标样比较法大致可分为以下几种:

①校正曲线法。这是应用最广泛的一种方法。用与测定样品组成类似的多个标样,据其含量和测得的X射线荧光强度的关系预先作好校正曲线。

测定未知样品的X射线荧光强度,再使用校正曲线来确定含量的分析方法叫做校正曲线法。除了在所述方法之外,为了减少基体效应,一般还常采用与稀释法(包括重元素稀释法在内)等制样技术相配合的分析校正曲线法。

②数学校正法;这是当用分析校正曲线法不能克服基体效应(吸收增强效应及谱线重叠)时采用的靠数学计算来校正基体效应的一种方法。

    ③内标法:这是一种校正基体元素吸收增强效应的方法。该法用一组包含一定比例内标元素、含量已知的标准样品作标样,先求出分析元素和内标元素X射线荧光强度之比,再将强度比和含量的关系作成校正曲线。

测定样品中也添加标样相同的内标物质,求出X射线荧光强度比,即可从校正曲线中确定含量。

  此外,还有把以固定量存在于样品中的元素作为内标的方法(潜在内标法)和把X射线管的射线作为内标的方法(散射线内标法)。

 

 

 

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