X射线荧光光谱法（29）:XRF分析中的基体效应及其校正-1

X射线荧光光谱法（29）

5        XRF分析中的基体效应及其校正-1

5.1 基体效应

基体效应是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化对分析线强度所造成的影响。它大致可从以下两类来说明：

（1）基体吸收和激发（增强）效应。主要指初级X射线进入样品时所受的吸收效应和荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其他元素的激发增强效应，以及第三级的激发效应。它们都随着样品的基体化学组成的差异而发生变化。

    （2）物理-化学效应。主要指样品的均匀性、颗粒度和表面效应及化学态变化等对分析线强度的影响。化学态变化主要指化学元素在样品中结合的氧化态和配位数、化学键和离子电荷的改变。这些都可能造成峰位移动和影响谱线宽度和形状。由此引起谱线强度-波长的再分布。

    一般来说，样品有效层厚度越大，激发辐射穿透样品越深，分析线辐射所产生的深度也越大。或者说初级线和分析线的波长越短，则吸收-增强效应越严重，而颗粒度和表面结构的影响相对越小。反之，初级线和分析线的波长越长，由于发生激发辐射穿透样品表面很浅，因此，吸收-增强效应就弱，但表面结构和颗粒效应比较严重。

基体效应是XRF定量分析中误差的主要来源之一。我们可以通过实验方法和数学校正方法来改变基体效应对分析元素的影响。