X射线荧光光谱法（31）:XRF分析中的基体效应及其校正-3

X射线荧光光谱法（31）

5        XRF分析中的基体效应及其校正-3

5.3  XRF分析中的数学校正

如果不考虑粒度、不均匀性和表面结构的影响，就可用数学校正法处理元素间的吸收-增强效应，分析人员首先要测出下述三个量之一：（1）试样中分析元素的谱线强度。（2）试样和纯元素标样的分析线强度之比。（3）试样和标样分析线强度之比，该标样与试样是相似的，且标样有恰当的分析元素浓度。然后用其中的一个量，通过某一数学校正法，求出分析元素的浓度。如图解计算法，简单吸收校正法，经验校正因子法，多重回归法，影响系数法，基本参数法以及基本参数与经验系数相结合的方法等。

通用的浓度型计算公式有：贝蒂-布里西（Bea-ttie-Brissey）模式，拉钱斯-特雷尔（Lachace-Traill）计算模式，克莱西-昆廷（Claisse-Quintin）计算公式，德琼（De Jongh）计算公式，拉斯伯里-海因里希（Rasberry-Heinrich）计算公式等。

通用的强度型计算公式有：卢卡斯一图思（Lucas-Tooth）和普赖斯（Price）模式，卢卡斯-图思和派恩（Pyne）模式以及西门子 SPECTRA300校正模式等。

目前国内应用的基本参数法，一般采用CRISS XRF11软件进行测量，它是由XRF11A； XRF11B；XRF11F；XRF11G四个部分组成的。