锤子
消耗积分 : 10积分 移动终端:免积分
X射线荧光光谱法(36)
6 样品制备-5
6.5 薄样技术
用薄样法测定时,分析线强度仅仅同分析元素浓度成正比,而与吸收和增强效应及样品组分无关,常用的方法如下:
(1)拨样法。称取少量研磨得很细的粉末样品于铝盘中,加几滴乙醇后用针拨平,待乙醇干后即可测定。
(2)抽滤法。称取少量的研磨得很细的粉末样品,放入小烧杯中,加入乙醇,将试样搅成悬浮状,倒入特制的抽滤漏斗中,抽到定量滤纸上,干后进行测定。
(3)滤纸片法。早期的滤纸片制样法是截取一定直径的滤纸圆片,吸取一定量的溶液滴到滤纸片上,干后测定。或将滤纸片浸泡在被测溶液中,取出,自然干燥后进行测定。近几年来,一般趋向于成形滤纸点滴法(即四蜡脚滤纸片法)。将滤纸制成内外二个同心圆,内外圆之间有lmm的缝隙,中间有2mm宽的四个支持桥脚,四脚被石蜡浸透,防止内圆中试液向外扩散。用微量移液管取20~100μL试液点滴在岛状圆中心,自然干燥后进行XRF测定。这样就大大地改善了用滤纸片法制样的重现性。
(4)薄膜法。近年来应用薄膜作底的薄样文献增多,由于背景低,可以降低检出限。有人主张在6μm的Mylar膜上,先滴上几滴赛璐珞-丙酮溶液,自然晾干,使其表面形成沟陷状态,再将1mL稀土溶液(稀土总量小于1mg)滴到φ30mm的薄膜中部,任其扩散,以便于试液较牢固地附着其上,此膜片可作XRF测定。
此外,用离子交换纸制成薄样试样可供XRF测定,其效果也较好。
打开失败或需在电脑查看,请在电脑上的资料中心栏目,点击"我的下载"。建议使用手机自带浏览器。