荧光寿命测试技术-时域或频域
- 类别:分析方法/应用文章
- 上传人:HORIBA
- 上传时间:2013/2/6 17:27:30
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简介:
荧光寿命与物质所处微环境的极性、粘度等条件有关,因此可以通过荧光寿命直接了解所研究体系发生的变化。本文从原理、仪器及应用方面介绍了荧光寿命测量的两种方法-时域、频域。
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