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锤子
基于AFM-IR连用系统的等离子半导体微粒的近红外吸收研究
- 类别：分析方法/应用文章
- 上传人：MASRC LIMITED
- 上传时间：2013/5/6 22:06:44
- 文件大小：989K
- 下载次数：15
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简介：
本文阐述了基于原子力显微镜和红外光谱（AFM-IR）连用系统的重掺杂硅的砷化铟微粒对近红外光谱的吸收结果。实验所用微粒在5.75μm处存在一个红外吸收峰。着反映了表面局部区域存在等离子体共振。近场吸收测量结果与透射和反射的远场测试结果以及麦克斯韦方程的数值解相一致。单个微粒的AFM-IR测量结果显示了颗粒表面温度的增加以及等离子体和超材料结构的高分辨率红外图像。
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