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锤子
GB/T 4937.3-2012 半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分：外部目检.pdf
- 类别：标准
- 上传人：yuxinlai06
- 上传时间：2013/8/29 20:01:01
- 文件大小：298K
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简介：
GB/T 4937的本部分的目的是验证半导体器件的材料、设计、结构、标志和工艺质量是否符合适用的采购文件的要求。外部目检是非破坏性试验,适用于所有的封装类型。本试验用于鉴定检验、过程监控、批接收。
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