消耗积分 : 免积分
地质样品属于非均质样品,对地质样品的各种化合物经行分布分析对了解地质过程、勘探矿物资源以及其它应用具有重要意义。 微型X射线荧光(μ-XRF)非常适合上述用途。μ-XRF空间分辨率非常好,对低浓度元素非常灵敏。本报告对地质样品的化验进行了阐述,论述了不同测量参数对分析结果的影响。
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